检索结果相关分组
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  科利登系统有限公司  SEMICON  China展会  Sapphire  D  10  失效分析 
描述:科利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
科利登完备失效分析实验室落户威盛
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 威盛电子股份有限公司  分析实验室  失效  完备  设计公司  科利登公司  台湾地区  特征分析  生产线  购买 
描述:科利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的芯片设计公司)。[第一段]