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科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  科利登系统有限公司  SEMICON  China展会  Sapphire  D  10  失效分析 
描述:科利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上