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Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
测试与测量
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试仪  科利登公司  采样示波器  测量  数据采集设备  PXI模块  HSDPA  自动测试  自动控制 
描述:科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2.0高速数据采集设备;[第一段]
科利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: VLSI  超大规模集成电路  测试  科利登系统公司  ATE  供应商  满意度 
描述:科利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科利登推出Sapphire-D10系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire  D10系统  封装  测试  集成电路  科利登系统公司 
描述:高的并行能力。[第一段]
城市公交车,混合动力电动汽车产业化的突破口--访武汉理工大
作者:吴绍先  来源:时代汽车 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 城市交通  公交车  混合动力  电动汽车  产业化  武汉理工大学  汽车工程学院  吴森 
描述:面独有建树,他的研究成果对推动我国电动汽车产业发展及缓解能源危机、环保危机等具有十分的意义。
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 集成电路  掩模  量产时间  诊断系统  测试  调试方法  降低  产品  加工成本  遗漏 
描述:科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登:成就测试帝国
作者:安勇龙  来源:电子经理世界 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:科利登:成就测试帝国
科利登推出新型测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 推出  Kalos  集成电路测试系统  Personal  科利登系统公司  非挥发性存储器  测试能力  存储器件  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 器件测试  并行测试  特性分析  测试系统  专用芯片  高密度  测试能力  移动电话  高集成  数字仪器 
描述:IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
科利登测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  科利登系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案