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破译《周礼》测量经纬度和晋·裴秀测绘地形图之秘
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作者:柳志青 柳翔 来源:浙江国土资源 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 《周礼》 经纬度 测绘地形图 测量 破译 春秋战国
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描述:土圭之法测土深,正日景, 以求地中。日南则景短,多暑;日北则景长,多寒。日东则景夕,多风;日西则景朝,多阴。日至之景尺有五
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科利登Sapphire D-10系统获奖
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作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
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描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
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科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
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作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
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描述:2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award(最佳测试奖)”奖项。
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教育应是社会本位、知识本位、人本位的和谐
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作者:王占宝 来源:上海教育 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 传统教育 知识本位 人本位 基本规律 实践教育 研究教育 和谐 社会本位 系统 走向
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描述:实践教育、研究教育、评价教育应该遵循教育的基本规律,继承优良的传统,把握教育的科学走向,根据教育的具体环境,回到教育的原点,回到教育的系统中来。
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科利登最新推出Sapphire
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作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案 有限公司 半导体材料 半导体工业 美国加州 供应商 e系列 系统
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描述:来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
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科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
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作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统 科利登系统有限公司 SEMICON China展会 Sapphire D 10 失效分析
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描述:科利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
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科学从测量开始——访中国电子仪器行业协会秘书长徐春龄
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作者:王颖 来源:中国电子商情:基础电子 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 电子测量仪器 科学家 行业协会 电子仪器 秘书长 电子信息产品制造业 中国 年均增长率
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描述:著名科学家门捷列夫说过:“科学是从测量开始的”。高新技术的发展对仪器仪表的依赖程度越来越大。近年来随着我国电子信息产品制造业规模的不断扩张。电子测量仪器的市场呈高速增长的态势,年均增长率在30
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科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
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作者:杨振中 来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
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描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
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科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
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作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
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描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
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科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
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作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
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描述:开发。[第一段]