检索结果相关分组
- 包公为什么不笑?
- 作者：刀尔登 来源：国学杂志 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 包公 张方平 欧阳修 宋祁 吕夷简 流传 奏议 王安石 记录 文官
- 描述：读关于包拯的书,总有几个疑惑:他为什么很少有朋友呢?他为什么不笑呢?为什么很少有关于他的资料呢?为什么……
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 Systems 半导体设计 微处理器 供应商 性价比 器件
- 描述：半导体设计、测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试
- ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子器件
- 作者：暂无 来源：电子资讯时报 年份：2007 文献类型 ：报纸
- 描述：【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感，并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前，德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用科利登FAL－ CON GLX系统，以达成具高可扩展性、 成本优势和灵活性的业界领先地位。此 前，ELMOS己经采用了科利登的FAL－ CON Piranha系统。本次合
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案，帮助用户满足不断
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 高数据速率 Systems 用户 半导体工业 微处理器 测试平台 供应商
- 描述：件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
- ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子半导体器件
- 作者：暂无 来源：汽车文摘 年份：2007 文献类型 ：期刊文章
- 描述：ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子半导体器件