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相关搜索词
中国市场
器件
器件测试
图象质量
半导体工业
分支机构
Personal
多功能
半导体
处理器
存储器
Raytheon公司
Octet系统
PXI模块
测试
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半导体行业
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根据【检索词:测试解决方案】搜索到相关结果
25
条
用于消费类器件
测试
的
解决方案
——Sapphire D-10
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
器件
测试
并行
测试
特性分析
测试
系统
专用芯片
高密度
测试
能力
移动电话
高集成
数字仪器
描述:
IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
Sapphire D-10来自科利登的
测试
经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自科利登的
测试
经济化革新
科利登引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试
系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品
测试
技术发展
测试
设备
描述:
科利登引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
Atmel利用科利登的ASL3000RF^TM无线
测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试
系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线
测试
描述:
科利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其
测试
解决方案
。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
科利登推出Sapphire—D10
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
科利登系统公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装
测试
解决方案
,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
Atmel利用科利登的ASL 3000RF^TM无线
测试
系
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
吞吐量
解决方案
测试
效率
测试
系统
网络分析技术
模拟信号
系统特点
接收器
市场提供
处理器
描述:
F是科利登具有高
测试
吞吐量、较小占地面积的线性和模拟信号 IC
测试
系统之一。该系统特点之一是采用专利的调制矢量网络分析技术(MFVNA),这一技术与系统的高并行度结构结合可以为RFIC提供无可比拟
科利登
测试
系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科利登系统公司
gigabit
解决方案
测试
平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire
测试
系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键
测试
平台。Silicon Image是gigabit半导体
解决方案
测试
与测量
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试仪
科利登公司
采样示波器
测量
数据采集设备
PXI模块
HSDPA
自动测试
自动控制
描述:
科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2.0高速数据采集设备;[第一段]
科利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科利登系统公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳
测试
与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科利登推出Sapphire-D10系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sapphire
D10系统
封装
测试
集成电路
科利登系统公司
描述:
高的并行能力。[第一段]
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