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首页>根据【检索词:测试解决方案】搜索到相关结果5条

科利登推出Sapphire—D10测试解决方案: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 测试解决方案 科利登系统公司微控制器混合信号显示驱动 e系列多功能消费类封装; 描述：科利登系统公司（Credence）日前宣布，推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，特别为微控制器、无线基带、显示驱动

科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 集成电路掩模量产时间诊断系统测试调试方法降低产品加工成本遗漏; 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

Atmel采用科利登无线测试系统实现高效率: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 无线测试测试解决方案 无线器件高效率射频芯片 ASL3000 Atmel公司分支机构团队工程开发; 描述：科利登公司近日宣布，Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此，Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低

科利登新增端对端6．4Gbps高速芯片测试产品: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 芯片测试高速端对端成本优势测试选件通道数量参数分析总线测试 IP技术; 描述：这些选件成为6．4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]

Ikanos选用科利登Octet用于宽带数字信号处理并行测试: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Ikanos公司 Octet 数字信号处理并行测试; 描述：Ikanos选用科利登Octet用于宽带数字信号处理并行测试

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