检索结果相关分组
- 用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 器件测试 并行测试 特性分析 测试系统 专用芯片 高密度 测试能力 移动电话 高集成 数字仪器
- 描述：IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
- 科利登测试系统被Silicon Image采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Silicon Image 测试系统 科利登系统公司 gigabit 解决方案 测试平台 电子器件 有限公司 数据传输 数字媒体 存储器 消费类 供应商 半导体
- 描述：科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 科利登连续三年ATE供应商满意度第一
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
- 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- Tripath技术公司购买科利登(Credence)的混合
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试设备 技术公司 混合信号 领先者 解决方案 生产测试 半导体工业 系统公司 购买 设计
- 描述：作为一个为全球半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先者,科利登系统公司日前宣布 Tripath 技术公司购买了ASL 3000测试设备。Tripath 技术
- 科利登：立志成为全球最大的ATE公司
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体产业 测试 集成电路设计 中国市场 设备公司 中国公司 记者 发展 全球 上海
- 描述：China 2004期间,记者访问了科利登中国公司总经理Steve Chen和科利登公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
- 物理设计纠错和验证完整解决方案 显著加快新品上市进程
- 作者：丁辉文 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 物理设计纠错 验证 半导体制造 硅片纠错 科利登公司
- 描述：术的快速发展与迅速变