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根据【检索词:测试程序开发】搜索到相关结果
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条
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳
测试
奖)奖项。[第一段]
语文课本:尚须充分
开发
的沃土
作者:
郭志明
来源:
语文教学与研究
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
语文课本
教育资源
王安石
语文教师
褒禅山
语文教学
沃土
人生态度
理解
思考
描述:
语文课本:尚须充分
开发
的沃土
市场运行应是国民体质
测试
的方向
作者:
陈凌
年份:
2006
文献类型 :
会议论文
描述:
为“公共服务事业”,充分说明中国政府“以人为本”的
科利登获“最佳
测试
奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科利登系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“最佳
测试
奖”奖项。 据了解,Sapphire
科利登sapphire D-10
测试
系统销往欧洲领先的
测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
实验室
测试
系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10
测试
系统。该
测试
实验室将使用这些先进的
测试
系统来
测试
多媒体音,视频数字和混合
科利登具有6.4G速度
测试
能力的Sapphire S
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的
开发
。[第一
科利登的Sapphire S
测试
系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登新品提供先进的射频
测试
能力
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
能力
射频
Zigbee
科利登公司
WiMax
测试选件
网络分析
测试
平台
无线电话
描述:
科利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40
测试
平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在
测试
无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力
科利登推出具有6.4G bps
测试
能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试
能力
自动测试设备
科利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统
测试
和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的
开发
。[第一段]
科利登Sapphire S
测试
系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发
。[第一段]
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