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根据【检索词:测试程序开发】搜索到相关结果
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条
Sapphire D-10来自科利登的
测试
经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自科利登的
测试
经济化革新
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本
测试
作者:
丁辉文
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
温度稳定装置确
测试
系统
热管理系统
科利登公司
芯片级温度稳定技术
测试
成本
集成电路
描述:
芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本
测试
科利登Sapphire S
测试
系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发
。[第一段]
ATE巨头科利登掀起
测试
行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
ATE
行业
科利登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
全新的科利登:提供先进技术降低
测试
成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登公司
测试
成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的科利登:提供先进技术降低
测试
成本
Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线
测试
系统实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
ASL3000
测试
效率
WLAN
测试
解决方案
无线器件
测试
成本
分支机构
团队
工程
开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约
测试
成本的解决方案。
科利登在VLSI关于
测试
与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登公司
VLSI公司
用户满意度
自动测试设备
描述:
科利登在VLSI关于
测试
与材料加工设备公司的用户满意度调查
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