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半导体业
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刘绍勇
半导体
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国际
光纤通道控制器芯片
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根据【检索词:测试服务供应商】搜索到相关结果
20
条
科利登系统荣获《
测试
与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统有限公司
测试
解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先
供应商
——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
服务
测试
领域 满足客户需求:访科利登系统公司首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
首席执行官
服务
测试
客户需求
测试
解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科利登公司
工业设计
描述:
科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳
测试
奖)奖项。[第一段]
第四届科利登系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨
西安
测试
解决方案
生产
测试
供应商
描述:
从设计到生产
测试
的全过程
测试
解决方案
供应商
——科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列
测试
技术研讨年会”。[第一段]
科利登最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先
供应商
一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
市场运行应是国民体质
测试
的方向
作者:
陈凌
年份:
2006
文献类型 :
会议论文
描述:
为“公共
服务
事业”,充分说明中国政府“以人为本”的
科利登获“最佳
测试
奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科利登系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“最佳
测试
奖”奖项。 据了解,Sapphire
科利登sapphire D-10
测试
系统销往欧洲领先的
测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
实验室
测试
系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10
测试
系统。该
测试
实验室将使用这些先进的
测试
系统来
测试
多媒体音,视频数字和混合
科利登具有6.4G速度
测试
能力的Sapphire S
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
科利登的Sapphire S
测试
系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
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