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供应商
合并
器件
半导体行业
半导体工业
图象质量
周路
地方高校
所属企业
存储器
半导体业
主任
刘绍勇
半导体
全球范围
Raytheon公司
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测试
Sapphire
吴炳新
国际
光纤通道控制器芯片
唐宋八大家
加工成本
发展
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根据【检索词:测试服务供应商】搜索到相关结果
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条
科利登系统公司荣获英特尔的优秀质量
供应商
奖
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统公司
供应商
质量
混合信号
测试
英特尔公司
3月15日
美国加州
测试
系统
数字和
服务
产品
市场
描述:
其他25家公司已于3月15日在加州Burlingame举行的颁奖会上接受这一荣誉。
科利登发布D-6432DFT
测试
解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试
平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire
测试
平台。[第一段]
通过购买多台科利登的ASL1000
测试
系统Best Ele
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL1000
供应商
购买
半导体行业
Components公司
世界
有限公司
测试
成本
混合信号
测试
解决方案
描述:
ECCI是业界领先的
测试
方案
供应商
,可以为线性、模拟和混合信号器件提供参数及功能
测试
的完整方案。该公司将采用ASL1000^TM
测试
温度传感器,
Zetex半导体选择科利登的ASL3000
测试
其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科利登系统公司
类型
测试
解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试
成本
分立器件
产品市场
测试
方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的
测试
方案。
科利登最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先
供应商
一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科利登具有6.4G速度
测试
能力的Sapphire S
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
科利登(Credence)与蔚华科技合并台湾业务
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Integration
合并
科技
科利登系统公司
业务
股份有限公司
测试
解决方案
半导体行业
技术整合
测试
设备
集中培训
台湾地区
供应商
人力
描述:
进一步致力于科利登在台湾地区用户的支持。
科利登与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工业大学
合作
北方
2004年6月
科利登系统公司
工程
测试
解决方案
半导体工业
半导体产品
SOC
测试
特性分析
混合信号
供应商
描述:
2004年6月14日,美围加州MILPITAS--科利登系统公司,世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先
供应商
,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
用下一代基于数字信号处理的仪器应对新兴多频带模拟
测试
挑战
作者:
Ross
Martindale
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模拟/混合信号集成电路
音频编解码器件
音频/视频数字化仪器卡
任意波形发生器仪器卡科利登的ASL
3000
测试
系统
描述:
满足性能需求的仪器.新的多频带模拟仪器的引入,使工程师能够应对从音频到视频,成本敏感的消费类混合信号器件的模拟
测试
挑战.通过提供更多的供电能力,这些新仪器进一步加强了自动化
测试
设备的能力,从而降低了
矽格定购了多台科利登Sapphire
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
测试
与封装外包市场的增长。
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