检索结果相关分组
- 科利登(Cre dence)加大本土化服务、降低测试成本,
- 作者：丁力 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体 测试设备 产品量 测试系统 有限公司 解决方案 总经理 成本 会展中心 中国市场
- 描述：领先的提供从设计到生产全套测试解决方案的供
- 科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本 科利登系统公司 芯片 市场需求 多功能
- 描述：。Sapphire D-10是一款创新的高产能多功能的圆片和封装测试系统，[第一段]
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 全新的科利登：提供先进技术降低测试成本
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 测试成本 竞争优势 商业战略
- 描述：全新的科利登：提供先进技术降低测试成本
- 科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
- 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 芯片 成本控制 封装测试系统 D—10系统 图形调试
- 描述：科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
- 为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 作者：胡芃 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 总经理 测试成本 中国 创新
- 描述：为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
- 科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 中国市场 测试成本 量产时间 解决方案 ASL 3000RF
- 描述：科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案：SEM
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 宽带数字信号处理器 测试 Octet系统 Ikanos公司
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
- 牲畜增重成本应是有效增重的成本
- 作者：贾宪威 来源：报刊资料选汇(畜牧业经济水产业经济) 年份：1987 文献类型 ：期刊文章
- 描述：牲畜增重成本应是有效增重的成本