检索结果相关分组
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 科利登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 测试能力 科利登系统公司 模拟 测试应用 数字电视 模数转换 音 视频 XDSL
- 描述：科利登系统公司日前宣布：在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件（QBIX）能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视，音／视频数模／模数转换，XDSL，中频，移动基带
- 测试与测量
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试仪 科利登公司 采样示波器 测量 数据采集设备 PXI模块 HSDPA 自动测试 自动控制
- 描述：科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2．0高速数据采集设备;[第一段]
- 科利登连续三年ATE供应商满意度第一
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
- 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 王益区“春风行动”搭建平台
- 作者：史小建 来源：铜川日报 年份：2005 文献类型 ：报纸 关键词： 外出务工人员 行动 劳务输出 待业青年 交流平台 劳务人员 增加农民收入 实际问题 有效手段 下岗职工
- 描述：本报讯：特约记者史小建报道：王益区通 过“春风行动”大力宣传，积极为务工人员和 用工单位搭建交流平台，今年已经使1300多 人实现外出务工。$$ 和女朋友恋恋不舍的王先生告诉记者， 他就是通过王益区就业局组织的“春风行动” 解决了待业实际问题，自己能到北京西京报业 工作，心里非常高兴。$$ 2004
- 科利登:成就测试帝国
- 作者：安勇龙 来源：电子经理世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登:成就测试帝国