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Atmel利用的ASL3000RFTM无线测试系统实
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  ASL3000  测试效率  WLAN  测试解决方案  无线器件  测试成本  分支机构  团队  工程开发 
描述:N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
强强联手 蓄势冲击——访科系统公司全球总裁兼首席执行
作者:邬小梅  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  人物访谈  电子行业  半导体市场  测试设备 
描述:dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。
新聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 力量  专家  测试解决方案  半导体工业  首席执行官  全球范围  市场  供应商 
描述:现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展科登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
创建业界领导者——科投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——科投资人更新
良好开端,再攀高峰——访美国科(Credence)系统
作者:邬小梅 卢玥光  来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 美国科系统公司  陈绪  人物采访  集成电路产业  战略部署 
描述:良好开端,再攀高峰——访美国科(Credence)系统
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
Sapphire D-10来自科的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自科的测试经济化革新
ATE巨头科掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
microtec购买多台科Sapphire D-10测
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  购买  渗透力  测试实验室  市场  有限公司  混合信号    视频  数字和  多媒体 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字