检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(87)
报纸
(30)
会议论文
(2)
学位论文
(1)
按栏目分组
历史名人
(113)
地方风物
(3)
宗教集要
(3)
才乡教育
(1)
按年份分组
2014
(15)
2013
(3)
2011
(5)
2010
(5)
2006
(17)
2005
(25)
2004
(15)
2003
(13)
2001
(2)
1965
(1)
按来源分组
云南日报
(12)
中国集成电路
(12)
集成电路应用
(7)
半导体技术
(7)
电子与电脑
(4)
国外电子测量技术
(2)
电子产品世界
(2)
中国老区建设
(1)
现代领导
(1)
地壳构造与地壳应力
(1)
相关搜索词
图象质量
地应力测量
Raytheon公司
Octet系统
PXI模块
团结
土地面积
测试
供应商
半导体行业
Sapphire
森林土壤
光纤通道控制器芯片
唐宋八大家
加工成本
器件
发展
SoC芯片
特定人群
运行模式
存储器件
器件测试
PersonalKalos2
内容依赖
佛教菁英
宣传教育
农民群众
国家社科基金项目
多媒体
首页
>
根据【检索词:水平测试】搜索到相关结果
2
条
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳
测试
奖)奖项。[第一段]
科利登引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试
系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品
测试
技术发展
测试
设备
描述:
科利登引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
首页
上一页
1
下一页
尾页