检索结果相关分组
- 科利登与蔚华合并台湾业务，服务客户测试需求
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 台湾地区 合并 服务 科利登系统公司 业务 需求 客户 股份有限公司 技术整合
- 描述：区用户的支持。[第一段]
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 测试与测量
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试仪 科利登公司 采样示波器 测量 数据采集设备 PXI模块 HSDPA 自动测试 自动控制
- 描述：科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2．0高速数据采集设备;[第一段]
- 科利登连续三年ATE供应商满意度第一
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
- 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 是“一流”的更应是学习型的……
- 作者：黄更新 来源：农电管理 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 服务 电力工业 电力公司 先进单位 农村经济发展 农民 农业 改革与发展 责任感 达标活动
- 描述：1994年,永城电力公司在开展“为农业、为农民、为农村经济发展服务”的达标活动中,就被授予“三为”服务达标先进单位的称号。进入21世纪以来,我国电力工业走上了改革与发展的快车道,强烈的责任感和使命感
- 科利登:成就测试帝国
- 作者：安勇龙 来源：电子经理世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登:成就测试帝国