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分支机构
团队
图象质量
处理器
市场
Raytheon公司
Octet系统
PXI模块
测试
供应商
半导体行业
Sapphire
光纤通道控制器芯片
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加工成本
器件
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条
Atmel利用科利登的ASL3000RF^TM
无线
测试
系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试
系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线
测试
描述:
科利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于
无线
器件
Atmel采用科利登
无线
测试
系统实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
测试
解决方案
无线
器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其
测试
解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于
无线
器件和应用的射频芯片较低
Atmel利用科利登的ASL3000RFTM
无线
测试
系统实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
ASL3000
测试
效率
WLAN
测试
解决方案
无线
器件
测试
成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约
测试
成本的解决方案。
Sapphire D-10来自科利登的
测试
经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自科利登的
测试
经济化革新
Atmel利用科利登的ASL 3000RF^TM
无线
测试
系
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
吞吐量
解决方案
测试
效率
测试
系统
网络分析技术
模拟信号
系统特点
接收器
市场提供
处理器
描述:
F是科利登具有高
测试
吞吐量、较小占地面积的线性和模拟信号 IC
测试
系统之一。该系统特点之一是采用专利的调制矢量网络分析技术(MFVNA),这一技术与系统的高并行度结构结合可以为RFIC提供无可比拟
测试
与测量
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试仪
科利登公司
采样示波器
测量
数据采集设备
PXI模块
HSDPA
自动测试
自动控制
描述:
科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA
无线
RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2.0
科利登连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科利登系统公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳
测试
与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科利登推出Sapphire-D10系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sapphire
D10系统
封装
测试
集成电路
科利登系统公司
描述:
高的并行能力。[第一段]
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被
测试
失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登:成就
测试
帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科利登:成就
测试
帝国
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