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首页>根据【检索词:新型集成电路】搜索到相关结果4条

科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模量产时间诊断系统测试调试方法降低产品加工成本遗漏; 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

科利登推出Sapphire-D10系统: 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统封装测试 集成电路 科利登系统公司; 描述：高的并行能力。[第一段]

科利登推出新型测试系统: 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 推出 Kalos 集成电路测试系统 Personal 科利登系统公司非挥发性存储器测试能力存储器件软件工具嵌入式全兼容硬件; 描述：生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。

优异性能来自嵌入式设计新型E4/4-轻型拖链:轻量、安: 作者：暂无 来源：木材加工机械 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 嵌入式设计柔性能量供应系统拖链系统稳定性抗张性; 描述：轻型拖链系统。它是一个薄壁和紧凑设计的新系统。E4/4-轻型的推出填补了易格斯产品系列中E4/4系统(高稳定性)和E4-轻型(高轻量)之间的产品空白。

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