检索结果相关分组
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- 科利登最新推出Sapphire
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 有限公司 半导体材料 半导体工业 美国加州 供应商 e系列 系统
- 描述：来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展（Semicon West）上展示了该公司领先业界
- 第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 西安 并行测试 技术研讨会 解决方案 同期 封装测试 现场 展示 混合信号 设计
- 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
- QuickLogic选用科利登Sapphire D-10系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 Logic公司 Quick 有限公司 工程验证 FPGA 低功耗 产品
- 描述：科利登系统（Credence）有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统，并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]
- 科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析