检索结果相关分组
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 激光扫描显微镜 软件设计 长工作距离 新型集成电路 切换系统 调试方法 工艺性能
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 软件设计 长工作距离 新型集成电路 失效模式 切换系统 竞争优势 制造工艺
- 描述：探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
- 新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 掩模 测试解决方案 系统定位 集成电路 量产时间 物理分析 供应商 问题 产品
- 描述：正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 成品率 步进扫描 图像叠加 掩模 系统定位 集成电路 量产时间 问题 产品 加工成本
- 描述：效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 购买 产品线 汽车工业 合作伙伴 制造商 系统 公司 器件 TM 测试
- 描述：到30
- 科利登（Cre dence）：访科利登系统（上海）有限公司
- 作者：丁力 来源：集成电路应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 陈绪 人物访谈 发展战略 中国市场 测试设备
- 描述：2004年3月17～19日，SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行，来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
- 科利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 集成电路 测试技术 系统级芯片 嵌入式温度稳定技术 Personal Kalos 2 ASL 3000RF
- 描述：。科利登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科利登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案
- 科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统（上海）有限公司正式成立
- 科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司(Credence System)将并购恩普