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相关搜索词
失效分析
失效模式
供应商
图像叠加
测试
存储器件
器件
半导体材料
加工成本
半导体工业
半导体生产
半导体业
Sapphire
分支机构
同期
发展战略
Personal
Verity系统
科利登公司
增强型
存储器
systems公司
半导体
器件测试
半导体行业
Raytheon公司
团队
低功耗
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根据【检索词:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率】搜索到相关结果
19
条
科
利
登
推出
新型
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路测试
系统
Personal
科
利
登
系统
公司
非挥发性存储器
测试能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试
系统
Kalos 2和工程测试
系统
Personal Kalos 2完全兼容。
Tripath技术公司购买
科
利
登
(Credence)的混合
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试设备
技术公司
混合信号
领先者
解决方案
生产测试
半导体工业
系统
公司
购买
设计
描述:
作为一个为全球半导体工业提供从
设计
到生产测试解决方案的领先者,
科
利
登
系统
公司日前宣布 Tripath 技术公司购买了ASL 3000测试设备。Tripath 技术
科
利
登
推出Sapphire-D10
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sapphire
D10
系统
封装
测试
集成电路
科
利
登
系统
公司
描述:
高的并行能力。[第一段]
Atmel购买
科
利
登
的
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
Atmel公司
测试解决方案
科罗拉多州
有限公司
RF
系统
射频芯片
无线器件
开发团队
分支机构
开发时间
ASL
灵活度
描述:
科
利
登
系统
有限公司近日宣布,Atmel公司购买了ASL 3000RF
系统
作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
科
利
登
推出完整的
设计
纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
设计
纠错
验证
Verity
系统
芯片
描述:
科
利
登
推出完整的
设计
纠错和验证解决方案
科
利
登
的Sapphire S测试
系统
被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利
登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
Raytheon公司选用
科
利
登
的IMS Electra
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
逻辑集成电路
验证测试
系统
多芯片模块
系统
公司
性能可靠
系统
测试
商业部
失效分析
测试工程
系统
架构
描述:
科
利
登
系统
公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运
系统
商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试
系统
。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试
系统
,能
科
利
登
测试
系统
被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科
利
登
系统
公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统
公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试
系统
作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Raytheon公司选用
科
利
登
的IMS Electm
系统
测
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Raytheon公司
IMSElectm
系统
测试
逻辑集成电路
描述:
Raytheon公司选用
科
利
登
的IMS Electm
系统
测
Ikanos选择
科
利
登
的Octet测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
Ikanos通讯公司
Octet测试
系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择
科
利
登
的Octet测试
系统
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