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条
科
利登任命Dave House为董事会
新
执行主席
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2005
文献类型 :
报纸
描述:
[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──
科
利登系统有限公司 日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为
科
利登董事 会
科
利登
新
推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
陈自明医学
全书
作者:
胡国臣总
盛维忠
来源:
中国中医药出版社
年份:
2005
文献类型 :
图书
关键词:
中国医药学
中国
宋代
描述:
陈自明医学
全书
科
利登和Cadence合作验证加快良率诊断的
新
流程
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试覆盖率
测试向量
描述:
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
科
利登和Cadence合力加快良率诊断的
新
流程
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
议题
效
应是褒还是贬
作者:
台
吴世家
来源:
国际广告
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
议题
大众媒体
传播方式
操作技巧
负面效应
行销
报道
描述:
创造出具有议题性的行销活动或广告,是每个企期提案者的最高遵从指标。能够引起大众媒体争相报道,是最具效益的行销传播方式,但需要高度的操作技巧,以免让议题产生负面效应。
张达文
百
侯中学获全国成果奖
作者:
池檀光
来源:
大埔乡讯
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
张达文
百
侯中学获全国成果奖
科
利登:成就测试帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利登:成就测试帝国
科
利登推出新型测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路测试系统
Personal
科
利登系统公司
非挥发性存储器
测试能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
科
利登:立志成为中国ATE第一
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体工业
科
利登公司
中国
ATE
市场占有率
描述:
05重点展示其
新
推出的几款新产品。为了让读者更加了解该公司,记者特意采访了
科
利登公司资深副总裁、主管全球运作的BartFreedman先生,现将采访内容整理出来,以飨读者。
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