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科利登Sapphire D-10系统获奖: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 系统获奖 award 有限公司 Best Test 测试; 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]

科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 系统科利登系统有限公司 SEMICON China展会 Sapphire D 10 失效分析; 描述：科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上

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