检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(3)
按栏目分组
历史名人
(3)
按年份分组
2005
(1)
2004
(2)
按来源分组
今日电子
(1)
电子测试(新电子)
(1)
电子与电脑
(1)
相关搜索词
供应商
加工成本
图像叠加
首页
>
根据【检索词:掩模】搜索到相关结果
2
条
新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者：
暂无
来源：
电子与电脑
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
成品率
掩模
测试解决方案
系统定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述：
正，从而降低
掩模
重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者：
暂无
来源：
今日电子
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述：
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
首页
上一页
1
下一页
尾页