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条
新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者：
暂无
来源：
电子与电脑
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
成品率
掩模
测试解决方案
系统定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述：
正，从而降低
掩模
重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者：
暂无
来源：
电子测试(新电子)
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述：
科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低
掩模
重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
作者：
暂无
来源：
今日电子
年份：
2004
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
成品率
步进扫描
图像叠加
掩模
系统定位
集成电路
量产时间
问题
产品
加工成本
描述：
效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件，采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
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