江西临川文化特色文献库

第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 西安并行测试技术研讨会解决方案同期封装测试现场展示混合信号设计; 描述：第四届科利登系列技术研讨年会于2006年6月2日在中国西安

第四届科利登系列技术研讨年会子2006年6月2日在中国西安: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 技术研讨会西安中国年会 IC测试 RFID芯片; 描述：对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣，积极地与来自科利登的演讲专家进行沟通和探讨，同期现场展示的科利登最新产品SapphireD-10，也吸引了代表们的高度关注。[第一段]