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为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生