检索结果相关分组
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
心理学报》2006年第38卷总目录
作者:暂无 来源:心理学报 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 注意缺陷多动障碍  小学儿童  知道感  执行功能  黄希庭  青少年  影响因素  心理学报  时间分配  效应 
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市场运行应是国民体质测试的方向
作者:陈凌  年份:2006 文献类型 :会议论文
描述:为“公共服务事业”,充分说明中国政府“以人为本”的
科利登获“最佳测试奖”
作者:暂无 来源:上海商报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:  本报讯  近日,来自美国加州苗必达市的消息称:科利登系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
朱熹理学与陆九渊心学
作者:王国猛 徐华  来源:西南交通大学出版社 年份:2006 文献类型 :图书 关键词: 陆九渊  1139  1193  心理  哲学思想  研究  朱熹  1130  1200  理学  哲学思想  研究 
描述:朱熹理学与陆九渊心学
科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音,视频数字和混合
科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
陆九渊“主体性”教育心理思想及现代价值
作者:黄勇明  来源:东华理工学院学报(社会科学版) 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 陆九渊  主体性  教育心理思想  借鉴 
描述:实践的发展提供借鉴。
科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  科利登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登新品提供先进的射频测试能力
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试能力  射频  Zigbee  科利登公司  WiMax  测试选件  网络分析  测试平台  无线电话 
描述:科利登公司近日宣布:在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析(MVNA)射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话,WLAN,WiMax以及Zigbee等器件上的能力