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科利登发布D-6432DFT测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  Systems  半导体设计  微处理器  供应商  性价比  器件 
描述:新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。
科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:暂无 来源:世界电子元器件 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 高数据速率  测试解决方案  科利登系统公司  半导体器件  高速串行总线  可测性设计  微处理器  环路测试 
描述:的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
科利登发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  高数据速率  Systems  用户  半导体工业  微处理器  测试平台  供应商 
描述:件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]