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条
科利登Sapphire D-10
系统
获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利登
系统
有限公司日前宣布其Sapphire D-10
系统
荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
教育应是社会本位、知识本位、人本位的和谐
作者:
王占宝
来源:
上海教育
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
传统教育
知识本位
人本位
基本规律
实践教育
研究教育
和谐
社会本位
系统
走向
描述:
实践教育、研究教育、评价教育应该遵循教育的基本规律,继承优良的传统,把握教育的科学走向,根据教育的具体环境,回到教育的原点,回到教育的
系统
中来。
科利登最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登
系统
有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科利登在
2006
年度SEMICON China展会上展出S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科利登
系统
有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科利登
系统
有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了
2006
年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
中国联通李晓明:NGN是构建和谐
通信
环境的切入点/中国电信
作者:
暂无
来源:
通信世界(B)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
中国联通李晓明:NGN是构建和谐
通信
环境的切入点/中国电信
科利登Sapphire S测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
科利登
系统
荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
系统
有限公司
测试解决方案
测量
系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登
系统
有限公司日前宣布其S apphire D-10
系统
荣获
QuickLogic选用科利登Sapphire D-10
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科利登
系统
(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试
系统
,并将选用该
系统
作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试
系统
。[第一段]
科利登新推出的Sapphire D-40
系统
能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
科利登SEMICON展出Sapphire D-10
系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
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