检索结果相关分组
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- 科利登最新推出Sapphire
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 有限公司 半导体材料 半导体工业 美国加州 供应商 e系列 系统
- 描述：来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展（Semicon West）上展示了该公司领先业界
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- microtec购买多台科利登Sapphire D-10测
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 购买 渗透力 测试实验室 市场 有限公司 混合信号 音 视频 数字和 多媒体
- 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音／视频数字
- 服务测试领域 满足客户需求：访科利登系统公司首席执行官Da
- 作者：Dave Ranhoff 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 首席执行官 服务测试 客户需求 测试解决方案 全球范围 技术人员 设备制造商 科利登公司 工业设计
- 描述：科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
- 科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获