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公司
半导体产业
测试
供应商
器件测试
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半导体工业
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根据【检索词:市场要闻:科利登(credence)系统公司(北京、上海)】搜索到相关结果
18
条
科
利
登
新聘资深专家加强
公司
领导团队力量
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
力量
专家
测试解决方案
半导体工业
首席执行官
全球范围
市场
供应商
描述:
现场运营和
市场
团队,集中于逐渐扩展
科
利
登在日本和台湾等主要
市场
领域的业务。[第一段]
microtec购买多台
科
利
登
Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试
系统
。该测试实验室将使用这些业界领先的测试
系统
来测试多媒体音/视频数字
强强联手 蓄势冲击——访
科
利
登
系统
公司
全球总裁兼首席执行
作者:
邬小梅
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
人物访谈
电子行业
半导体
市场
测试设备
描述:
dall博士带领
公司
高层,亲临
上海
主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。
良好开端,再攀高峰——访美国科
利
登
(
Credence
)
系统
作者:
邬小梅
卢玥光
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
美国科
利
登
系统
公司
陈绪
人物采访
集成电路产业
战略部署
描述:
良好开端,再攀高峰——访美国科
利
登
(
Credence
)
系统
科
利
登
Sapphire S测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems
公司
Sun
公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
科
利
登
新推出的Sapphire D-40
系统
能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RFTM无线测试
系统
实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
ASL3000
测试效率
WLAN
测试解决方案
无线器件
测试成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件
市场
提供了关键的节约测试成本的解决方案。
科
利
登
公司
把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
MSVanguard系列
半导体行业
生产测试
逻辑集成电路
描述:
科
利
登
公司
把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
恩浦
公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
Sapphire D-10来自
科
利
登
的测试经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自
科
利
登
的测试经济化革新
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