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科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV: 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试平台测试能力射频 RF 测试解决方案 Zigbee 半导体工业 WiMax 有限公司测试选件; 描述：pphire D系列的测试能力。[第一段]

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