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良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统: 作者：邬小梅卢玥光 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 美国科利登系统公司陈绪人物采访集成电路产业战略部署; 描述：良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统

科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司测试系统自动测试设备微处理器芯片 SPARC 高速芯片系统使用; 描述：开发。[第一段]

科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片特性无线应用芯片尺寸测试设备工程验证混合信号复杂度; 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]

强强联手蓄势冲击——访科利登系统公司全球总裁兼首席执行: 作者：邬小梅 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司人物访谈电子行业半导体市场测试设备; 描述：dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。

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