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条
Pericom针对PCI Express推出系列
解决方案
/
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
Pericom针对PCI Express推出系列
解决方案
/
用于消费类器件测试的
解决方案
——Sapphire D-10
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
器件测试
并行测试
特性分析
测试系统
专用芯片
高密度
测试能力
移动电话
高集成
数字仪器
描述:
IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品测试
技术发展
测试设备
描述:
科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
Atmel利用科利登的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
解决方案
测试系统
性能
射频芯片
开发团队
灵活度
科罗拉多
开发时间
分支机构
无线测试
描述:
科利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试
解决方案
。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel利用科利登的ASL 3000RF^TM无线测试系
作者:
暂无
来源:
半导体行业
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试吞吐量
解决方案
测试效率
测试系统
网络分析技术
模拟信号
系统特点
接收器
市场提供
处理器
描述:
F是科利登具有高测试吞吐量、较小占地面积的线性和模拟信号 IC测试系统之一。该系统特点之一是采用专利的调制矢量网络分析技术(MFVNA),这一技术与系统的高并行度结构结合可以为RFIC提供无可比拟的测试吞吐量性能。带有数字和基带模拟工具的先进RF仪器能够满足多种混合信号和RF性能 IC的测试需要。
科利登推出Sapphire—D10测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
科利登系统公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试
解决方案
,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
科利登测试系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试系统
科利登系统公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体
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