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根据【检索词:器件测试】搜索到相关结果
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条
科利登发布D-6432DFT
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
Systems
半导体设计
微处理器
供应商
性价比
器件
描述:
半导体设计、
测试
解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于
测试
ELMOS选择科利登FALCON系统
测试
汽车电子半导体
器件
作者:
暂无
来源:
汽车文摘
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
描述:
ELMOS选择科利登FALCON系统
测试
汽车电子半导体
器件
ELMOS选择科利登FALCON系统
测试
汽车电子器件
作者:
暂无
来源:
电子资讯时报
年份:
2007
文献类型 :
报纸
描述:
【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感,并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前,德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用科利登FAL- CON GLX系统,以达成具高可扩展性、 成本优势和灵活性的业界领先地位。此 前,ELMOS己经采用了科利登的FAL- CON Piranha系统。本次合
科利登发布D-6432DFT
测试
解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试
平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire
测试
平台。[第一段]
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