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器件测试
器件
图象质量
Raytheon公司
Octet系统
PXI模块
测试
供应商
半导体行业
Sapphire
光纤通道控制器芯片
唐宋八大家
加工成本
发展
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存储器件
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历史进程
任意波形发生器仪器卡科利登的ASL
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Sun公司
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根据【检索词:器件测试】搜索到相关结果
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条
用于消费类
器件
测试
的解决方案——Sapphire D-10
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
器件
测试
并行
测试
特性分析
测试
系统
专用芯片
高密度
测试
能力
移动电话
高集成
数字仪器
描述:
IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
科利登发布D-6432DFT
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
Systems
半导体设计
微处理器
供应商
性价比
器件
描述:
半导体设计、
测试
解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于
测试
ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
产品线
汽车工业
合作伙伴
制造商
系统
公司
器件
TM
测试
描述:
到30
日月光定购多台科利登的SoC
测试
系统Octet
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
SoC
测试
半导体
测试
生产
测试
器件
光测
系统性能
测试
能力
纳斯达克
股票
量产
描述:
统性能和
测试
能力,可以满足下一代
器件
技术,对
测试
系统
测试
容量和范围的要求。
Sapphire D-10来自科利登的
测试
经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自科利登的
测试
经济化革新
ELMOS选择科利登FALCON系统
测试
汽车电子半导体
器件
作者:
暂无
来源:
汽车文摘
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
描述:
ELMOS选择科利登FALCON系统
测试
汽车电子半导体
器件
Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Raytheon公司
IMSElectm系统
测试
逻辑集成电路
描述:
Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
宽带数字信号处理器
测试
Octet系统
Ikanos公司
描述:
Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
测试
与测量
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试仪
科利登公司
采样示波器
测量
数据采集设备
PXI模块
HSDPA
自动测试
自动控制
描述:
科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2.0高速数据采集设备;[第一段]
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳
测试
奖)奖项。[第一段]
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