检索结果相关分组
- 全球有超过150套的科利登的3．2Gbps测试设备用于高速
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：被全球10大主要客户所采用，这些客户有著名的fabless设计公司，测试承包商及IDM领导厂商。科利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试，包括HyperTransport
- 科利登市场动作频频备受全球业界瞩目
- 作者：海菲 来源：电子与封装 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 全球 市场 科利登系统公司 测试解决方案 半导体工业
- 描述：世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供直商科利登系统公司近两个月来连续宣布三个市场动作，备受全球业界瞩目。[第一段]
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- 科利登连续三年ATE供应商满意度第一
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
- 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登:成就测试帝国
- 作者：安勇龙 来源：电子经理世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登:成就测试帝国
- 科利登推出新型测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 推出 Kalos 集成电路测试系统 Personal 科利登系统公司 非挥发性存储器 测试能力 存储器件 软件工具 嵌入式 全兼容 硬件
- 描述：生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。