检索结果相关分组
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- 科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
- 作者：王明伟 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 新潮流 测试系统 低成本 半导体工业 生产商 解决方案 经济化 产品测试 技术发展 测试设备
- 描述：科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮
- 科利登完备失效分析实验室落户威盛
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司 分析实验室 失效 完备 设计公司 科利登公司 台湾地区 特征分析 生产线 购买
- 描述：科利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless（无生产线的芯片设计公司）。[第一段]
- 科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登（Credence）和Cadence共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]