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半导体工业
Octet系统
图象质量
器件
测试
Sapphire
Micrel公司
Octet
半导体行业
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根据【检索词:全球有超过150套的科利登的3.2Gbps测试设备用于高速】搜索到相关结果
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条
Sapphire D-10来自
科
利
登
的
测试
经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自
科
利
登
的
测试
经济化革新
科
利
登
Sapphire S
测试
系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试
设备
微处理器芯片
SPARC
高速
芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
ATE巨头
科
利
登
掀起
测试
行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
ATE
行业
科
利
登
公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低
测试
成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
测试
成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的
科
利
登
:提供先进技术降低
测试
成本
Atmel利用
科
利
登
的ASL3000RFTM无线
测试
系统实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线
测试
ASL3000
测试
效率
WLAN
测试
解决方案
无线器件
测试
成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约
测试
成本的解决方案。
科
利
登在VLSI关于
测试
与材料加工
设备
公司的用户满意度调查
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
VLSI公司
用户满意度
自动测试
设备
描述:
科
利
登在VLSI关于
测试
与材料加工
设备
公司的用户满意度调查
强强联手 蓄势冲击——访
科
利
登
系统公司
全球
总裁兼首席执行
作者:
邬小梅
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
人物访谈
电子行业
半导体市场
测试
设备
描述:
dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体
设备
描述:
创建业界领导者——
科
利
登
投资人更新
microtec购买多台
科
利
登
Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试
实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登
系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10
测试
系统。该
测试
实验室将使用这些业界领先的
测试
系统来
测试
多媒体音/视频数字
科
利
登
新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试
设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产
测试
设备
的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度
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