检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(207)
报纸
(43)
学位论文
(1)
按栏目分组
历史名人
(233)
地方风物
(9)
地方文献
(5)
红色文化
(3)
宗教集要
(1)
按年份分组
2013
(7)
2012
(10)
2008
(6)
2006
(34)
2005
(48)
1997
(2)
1996
(3)
1988
(1)
1983
(2)
1953
(1)
按来源分组
中国诗歌
(2)
其它
(2)
物理
(1)
抚州师专学报
(1)
学习博览
(1)
江苏教育
(1)
资源开发与市场
(1)
抚州日报
(1)
植物杂志
(1)
萌芽
(1)
相关搜索词
采摘
多年生草本植物
仙人掌
刘绍棠
地下室
夏秋
基本原理
天官
天气
动物
天然
叶附生苔
叶面积
北美黄杉
威斯康星大学
《牡丹亭》
北宋
制科
世界
寨子
化探
多中心前瞻性研究
半导体生产
章学诚
金山寺
策论
积极思维
测试
四物汤
首页
>
根据【检索词:仙人掌科植物】搜索到相关结果
34
条
马头山
植物
基因库的守护者
作者:
陈青峰
周划
胡新平
来源:
抚州日报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
马头山
植物
基因库的守护者
科
利登最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界Sapphire系列的最新成员Sapphire D-40系统。[第一段]
威盛电子选用
科
利登解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
设计公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科
利登系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从
科
利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
科
利登获“最佳测试奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:
科
利登系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
科
利登Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科
利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科
利登推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
测试能力
自动测试设备
科
利登系统公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
ATE巨头
科
利登掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
科
利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——
科
利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
QuickLogic选用
科
利登Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利登系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
首页
上一页
1
2
3
4
下一页
尾页