检索结果相关分组
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 测试与测量
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试仪 科利登公司 采样示波器 测量 数据采集设备 PXI模块 HSDPA 自动测试 自动控制
- 描述：科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2．0高速数据采集设备;[第一段]
- 科利登连续三年ATE供应商满意度第一
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
- 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- 吴炳新能否重振三株雄风?
- 作者：维仁 来源：中国乡镇企业 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 子公司 民营企业 办事处 市场反应 集团总部 营销战术 公司经理 产品 医药 消费者
- 描述：的文化程度只是用4年时间 读完了小学6年的课程．但他拥有一个 非常光鲜的头衔:三株医药生物研究所 首席科学家。
- 科利登:成就测试帝国
- 作者：安勇龙 来源：电子经理世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登:成就测试帝国
- 科利登推出新型测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 推出 Kalos 集成电路测试系统 Personal 科利登系统公司 非挥发性存储器 测试能力 存储器件 软件工具 嵌入式 全兼容 硬件
- 描述：生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。