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首页>根据【检索词:产品测试】搜索到相关结果5条

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新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 成品率掩模测试解决方案系统定位集成电路量产时间物理分析供应商问题产品; 描述：正，从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

Silicon Image购买了科利登Sapphire测试: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： Silicon Image 电子器件测试系统消费类购买科利登系统公司 gigabit 一代测试解决方案半导体工业测试平台有限公司数据传输供应商存储器代码; 描述：些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。

DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： DMEA工程实验室 IMS Vanguard测试系统科利登公司微处理器; 描述：DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统

科利登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 测试平台测试能力科利登系统公司模拟测试应用数字电视模数转换音视频 XDSL; 描述：科利登系统公司日前宣布：在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件（QBIX）能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视，音／视频数模／模数转换，XDSL，中频，移动基带

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