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产品
测试
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周礼全
器件
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低功耗
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基本规律
半导体材料
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根据【检索词:产品数据管理系统PDM】搜索到相关结果
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条
科利登Sapphire D-10
系统
获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利登
系统
有限公司日前宣布其Sapphire D-10
系统
荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
QuickLogic选用科利登Sapphire D-10
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科利登
系统
(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试
系统
,并将选用该
系统
作为下一代低功耗FPGA
产品
的工程验证和
产品
测试
系统
。[第一段]
教育应是社会本位、知识本位、人本位的和谐
作者:
王占宝
来源:
上海教育
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
传统教育
知识本位
人本位
基本规律
实践教育
研究教育
和谐
社会本位
系统
走向
描述:
实践教育、研究教育、评价教育应该遵循教育的基本规律,继承优良的传统,把握教育的科学走向,根据教育的具体环境,回到教育的原点,回到教育的
系统
中来。
科利登最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登
系统
有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科利登在
2006
年度SEMICON China展会上展出S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科利登
系统
有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科利登
系统
有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了
2006
年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
直销能拯救三株吗?
作者:
江忠海
来源:
中国乡镇企业
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
保健品市场
制药企业
产品
知名品牌
品牌知名度
市场状况
直销
吴炳
总经理
广告费
描述:
保健品市场的教父级人物吴炳新并不甘心寂寞。这位三株集团的掌门人,正准备图谋让已经倒下6年的“保健品恐龙”站起来。
科利登新增端对端6.4Gbps高速芯片测试
产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
科利登SEMICON展出Sapphire D-10
系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试
产品
系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
科利登的Sapphire S测试
系统
被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登Sapphire S测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
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