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为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国总经理陈绪先生
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  总经理  测试成本  中国  创新 
描述:为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国总经理陈绪先生
科利登:立志成为中国ATE第一
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体工业  科利登公司  中国  ATE  市场占有率 
描述:05重点展示其新推出的几款新产品。为了让读者更加了解该公司,记者特意采访了科利登公司资深副总裁、主管全球运作的BartFreedman先生,现将采访内容整理出来,以飨读者。