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品牌
何源富
发展战略
产业链
副总经理
国际贸易
公司
上海
产权改制
制造企业
国民党
孔林
英雄
测试
升降式
主席
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根据【检索词:上海科尼起重机设备有限公司】搜索到相关结果
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条
博大关怀 深耕不息——访
科
尼
起重机
设备
(
上海
)
有限公司
总
作者:
暂无
来源:
现代制造
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
上海
市场
有限公司
总经理
起重机
设备
深耕
物流行业
销售
品牌
描述:
何总的继往开来绝非沿着别人的足迹,而是凭借其在
科
尼
超过20年的摸打滚拼,凭借其2001年初涉
上海
市场,短短几年,销售连年攀升,不仅令物流行业谙熟“
科
尼
”品牌,外行也啧啧称奇、无人不晓。
江西临川酒业
有限公司
作者:
暂无
来源:
求实
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
有限公司
临川
江西
酒业
产权改制
王安石
汤显祖
描述:
江西临川酒业
有限公司
坐落于素有“才子之乡”美称的王安石、汤显祖故里——临川,公司始创于1958年,前身为江西临川酒厂,2001年经过产权改制,由国有转为民营。[编者按]
科
利登Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科
利登系统
有限公司
日前宣布其Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科
利登任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科
利登系统
有限公司
日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为
科
利登董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
科
利登最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统
有限公司
在美西半导体材料与
设备
展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
QuickLogic选用
科
利登Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利登系统(Credence)
有限公司
日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
低成本和高性能促成DEI购买
科
利登的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科
利登系统
有限公司
近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL测试系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科
利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
华仪电器开创新风潮——访华仪电器集团
有限公司
董事长兼总裁陈
作者:
肖吉德
来源:
电气时代
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
有限公司
董事长
电器
总裁
集团
新风
中国经济
民营经济
改革开放
发展速度
描述:
型民营企业集团。陈道荣和妻子育有两儿一女。最推崇的人是中国改革开放总设计师邓小平。
香港科技园运用
科
利登的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利登系统
有限公司
(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列
科
利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
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