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升降式
何源富
半导体工业
发展战略
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国际贸易
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半导体材料
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根据【检索词:上海新利登机械有限公司】搜索到相关结果
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条
Atmel购买科
利
登
的系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
Atmel公司
测试解决方案
科罗拉多州
有限公司
RF系统
射频芯片
无线器件
开发团队
分支机构
开发时间
ASL
灵活度
描述:
科
利
登
系统
有限公司
近日宣布,Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
京元电子购买多台科
利
登
Sapphire系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
客户
量产
节约
有限公司
电子
吞吐量
测试成本
测试系统
描述:
科
利
登
系统
有限公司
近日宣布京元电子
有限公司
(KYEC)已经购买了多台Sapphire测试系统。京元将使用Sapphire提高其高量产测试的吞吐量,为客户节约了测试成本。
科
利
登
测试系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试系统
科
利
登
系统公司
gigabit
解决方案
测试平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统公司13前宣布Silicon Image
有限公司
购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Silicon Image购买了科
利
登
Sapphire测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试系统
消费类
购买
科
利
登
系统公司
gigabit
一代
测试解决方案
半导体工业
测试平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
科
利
登
任命Dave House为董事会
新
执行主席
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2005
文献类型 :
报纸
描述:
[杨振中/北京]为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──科
利
登
系统
有限公司
日前宣布:在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House,被任命为科
利
登
董事 会
科
利
登
新
推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
《
上海
金属》第五届编委会
作者:
暂无
来源:
上海金属
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
上海
编委会
金属
姓氏
名誉
孔林
排列
瑞典
美国
周礼
描述:
清 黄元伟崔 健 葛红林 谢志明 蔡安定 瞿 标《
上海
金属》第五届编委会
科
利
登
和Cadence合作验证加快良率诊断的
新
流程
作者:
暂无
来源:
集成电路应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Cadence
验证
合作
科
利
登
系统公司
诊断
测试平台
Test
测试覆盖率
测试向量
描述:
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]
科
利
登
和Cadence合力加快良率诊断的
新
流程
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
(Credence)和Cadence共同努力,针对现在大部分良率要求很高的纳米设计,推出的解决方案提高了产品质量,加大了测试产能,加快了缺陷定位速度,从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
腾飞之路——记长春城市车辆制造
有限公司
总经理兼党总支书记刘
作者:
暂无
来源:
经济视角
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
总经理
东北
有限公司
人气
集团
长春市
公交
党总支书记
作风
务实
描述:
腾飞之路——记长春城市车辆制造
有限公司
总经理兼党总支书记刘
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