检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(750)
报纸
(141)
学位论文
(46)
会议论文
(38)
图书
(2)
按栏目分组
历史名人
(858)
地方文献
(54)
地方风物
(41)
非遗保护
(9)
才乡教育
(7)
宗教集要
(7)
文化溯源
(1)
按年份分组
2014
(84)
2012
(60)
2011
(72)
2010
(71)
2009
(42)
2006
(56)
2005
(36)
1999
(18)
1987
(14)
1982
(9)
按来源分组
其它
(93)
文献
(2)
运城学院学报
(2)
国外电子测量技术
(2)
上饶师专学报(社会科学版)
(1)
宋代文化研究
(1)
自然杂志
(1)
广西民族大学学报(自然科学版)
(1)
陕西社会科学论丛
(1)
电力科技通讯
(1)
相关搜索词
心理
胡应麟
测试
不对称
四六文
才子佳人小说
朱熹
初探
影响
吴澄
韶州
天命
冲气
书写
汤显祖
《六合内外琐言》
周礼全
器件
创作
清朝
名物训诂
太极
地震解释
排斥性
外科百效全书
建昌帮
第二次
仕途
商贾
首页
>
根据【检索词:三相系统不对称度对D31—cosφ型三相相位表的影响初探贵】搜索到相关结果
2
条
科利登Sapphire D-10
系统
获奖
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述：
科利登
系统
有限公司日前宣布其Sapphire D-10
系统
荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
科利登
系统
有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述：
科利登
系统
有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
首页
上一页
1
下一页
尾页
