检索结果相关分组
- 《时代》周刊新一期巴洛特利登封面
- 作者：暂无 来源：青岛晚报 年份：2012 文献类型 ：报纸
- 描述： 能上《时代》封面（下图），巴洛特利的影响还真是不一般。 CFP图 巴洛特利登上了美国最新一期《时代》周刊的封面，成为继梅西之后历史上第二个上此封面的足球运动员。 《时代》周刊共有美国、亚洲
- IC测试供应巨头科利登落户申城
- 作者：李冰心 来源：上海经济报 年份：2004 文献类型 ：报纸
- 描述：全球自动测试仪器（ATE）制造业领 军企业科利登（Credence）公司昨日正式 宣布在沪成立分公司。科利登总部位 于美国加州，从1978年成立至今，公司 已发展成为分支机构点遍布15个国家 的跨国
- 科利登任命Dave House为董事会新执行主席
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2005 文献类型 ：报纸
- 描述：［杨振中／北京］为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──科利登系统有限公司 日前宣布：在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House，被任命为科利登董事 会
- ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子器件
- 作者：暂无 来源：电子资讯时报 年份：2007 文献类型 ：报纸
- 描述：【本报讯】汽车半导体设计对于成本 的要求日益敏感，并日渐关系到企业未 来业务的成败。目前，德国的半导体制 造商ELMOS已选择使用科利登FAL－ CON GLX系统，以达成具高可扩展性、 成本优势
- 威盛电子采用科利登实验室解决方案
- 作者：暂无 来源：电脑商报 年份：2014 文献类型 ：报纸
- 描述：威盛电子采用科利登实验室解决方案
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 科利登新品提供先进的射频测试能力
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试能力 射频 Zigbee 科利登公司 WiMax 测试选件 网络分析 测试平台 无线电话
- 描述：科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力
- 波利登公司利用地下气体探测矿床
- 作者：暂无 来源：国外采矿技术快报 年份：1987 文献类型 ：期刊文章
- 描述：波利登公司利用地下气体探测矿床